鍍層厚度測(cè)試方法概述

測(cè)量鍍層厚度的方法很多，按照測(cè)量形式的不同，可以分為無(wú)損法和破壞法二類；如果根據(jù)測(cè)量原理的不同來(lái)分，則可分為磁性法（如磁性法、渦流法等）、電解法（如陽(yáng)極溶解庫(kù)倫法）、化學(xué)法（如計(jì)時(shí)液流法、點(diǎn)滴法、溶解稱重法等）、射線法（如背反射法，X射線熒光法等）、光學(xué)法（如輪廓尺寸測(cè)量法，雙光束顯微鏡法）、機(jī)械法（使用機(jī)械量具測(cè)量）等多種。這些測(cè)量方法各有它自己的特點(diǎn)、適用范圍和測(cè)量誤差范圍。

GB6463-B6《金屬和其他無(wú)機(jī)覆蓋層厚度測(cè)量方法評(píng)述》評(píng)述了金屬和非金屬基體上的金屬和其他無(wú)機(jī)覆量層厚度的測(cè)量方法,可以作為選擇厚度測(cè)量方法的依據(jù)。常用的厚度測(cè)量方法有:

(1)磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量方法。

(2)磁性和非磁性金屬基體上鎳電鍍層厚度測(cè)量方法。

(3)非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量方法。

(4)鍍層厚度陽(yáng)極溶解庫(kù)合測(cè)量法。

(5)鍍層厚度溶解稱重測(cè)量方法。

(6)鍍層厚度金相顯微鏡測(cè)量方法。

(7)鍍層厚度x射線熒光測(cè)量方法。

(8)鍍層厚度輪廓尺寸測(cè)量方法。

(9)雙光束顯微鏡厚度測(cè)量方法。

在選擇測(cè)量方法時(shí),應(yīng)盡量采用標(biāo)準(zhǔn)的方法測(cè)量厚度,有利于測(cè)量結(jié)果之可靠性,有利于數(shù)據(jù)的對(duì)比;測(cè)量貴金屬、大型鍍件或單個(gè)鍍表面上的鍍層厚度時(shí),宜選用無(wú)損方法；根據(jù)我們想要知道的鍍層厚度是平均厚度:還是局部厚度來(lái)進(jìn)擇測(cè)厚方法;根據(jù)鍍層厚度的大小來(lái)選擇測(cè)厚的方法。