到貨！京都玉崎深圳倉庫到貨日本SANKO測厚儀SWT-7000Ⅲ

測量方式

電磁式·渦電流式兩用（鐵·非鐵底材自動識別）

測量范圍

鐵底材：0～3.00mm、非鐵底材：0～2.50mm

表示分辨率

1μm：0～999μm的切換（鐵·非鐵共通）

     0.1μm：0～400μm（鐵·非鐵共通）

     0.5μm：400～500μm（鐵·非鐵共通）

0.01mm:1.00～3.00mm（鐵底材）

0.01mm:1.00～2.50mm（非鐵底材）

測量精度

（平滑表面）

0～100μm：:1μm（鐵·非鐵共通）

或者是指示值的±2%以內

101μm～3.00mm:±2%以內（鐵底材）

101μm～2.50mm:±2%以內（非鐵底材）

探測部

1點定壓接觸式、V形切口、φ13×52mm、72g

選擇產品

V形探測頭套有3種（φ5以下用、φ5～10用、φ10～20用）

附屬品

標準校正板、試驗用零校正板、（鐵用·非鐵用）

測量對象

鐵底材：鐵·鋼等磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂膜、

       電鍍（電解鎳除外）等

非鐵底材：鋁、銅等非磁性金屬底材上的絕緣皮膜等

         一般較普遍的測量物用

測量范圍

連接的探測頭不同測量范圍也不同。

顯示方式

    液晶顯示LCD（數據·提示信息）、背光燈

檢量線校正

2點校正方式（零校正、標準校正）

檢量線存儲

鐵、非鐵各1根

10根

測量值存儲

—

20,000點

數據傳送

—

USB

USB

統計功能

—

—

內藏

附加功能

●背光燈 ●測量模式的切換（普通／連續） ●檢量線、校正值的刪除

●自動關機功能（約3分以上不操作時，機器會自動關機） ●分辨率的切換

●上下限值的設定（SWT-7200Ⅲ）

電源

單3電池 ×2

單3電池 ×2     專用電源線

使用溫度

0～40C°（不結露）

機體尺寸·重量

72（W）×30（H）×156（D）mm、 重量 210g

附屬品

干電池、收納袋子

干電池、收納袋子、電源線、USB線、USB軟件（CD）

追加產品

鐵材金屬用探測頭（Fe）、非鐵材金屬用探測頭（NFe）

鐵·非鐵材用探測頭（FN-325）

測量方式

電磁感應式

測量范圍

0～2.50mm

0～600μm

表示分解率

1μm：0～999μm

切換

             0.1μm：0～400μm

0.5μm：400～500μm

             0.01mm:1.00～2.50mm

1μm：0～600μm

切換

0.1μm：0～400μm

 0.5μm：400～500μm

測量精度

（平滑面）

0～100μm:±1μm

又或者時顯示值的±2%以內

             101μm～2.50mm：±2%

0～100μm:±1μm

又或者時顯示值的±2%以內

101μm～600μm：±2%

探測部

1點定壓接觸式

V形口套頭

  2.5：φ13×48mm

  2.5L:18×23×67mm

1點定壓接觸式

測量部：約20×57mm

全長：約550～ 1.550mm

    （伸縮式）

1點定壓接觸式

     Φ5.6×94mm

選擇產品

V形套頭/—

（φ5以下用、φ5～10用、φ10～20用）

—

—

附屬品

標準校正片

試驗用零校正板

（鐵用）

標準校正片

試驗用零校正板（鐵用）

收納袋子

標準校正片

試驗用零校正板

       （鐵用）

測量對象

鐵·鋼等的磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂層、電鍍層（電解鎳的電鍍層除外）等等

鐵·鋼等的磁性金屬底材是哪個的皮膜、襯層等等手不能進去、高的地方、有距離的地方的涂層厚度的測量。

鐵·鋼等磁性金屬底材上的涂層、襯層等狹小的地方、小的部位的涂層的膜厚測量。

測量方式

電磁感應式

測量范圍

0～10mm

0～20mm

表示分解率

1μm：0～999μm

0.01mm:1～10mm

 1μm：0～999μm

0.01mm:1～5mm

0.1mm:5～20mm

測量精度

（平滑面）

0～3mm：±（5μm＋顯示值的3%）

             3.01mm：顯示值的±3%

探測部

1點定壓接觸式

V形口套頭

φ18×47mm

1點定壓接觸式

V形口套頭

φ35×59mm

選擇產品

—

—

附屬品

標準校正片、試驗用零校正板（鐵用）

測量對象

鐵·鋼等磁性金屬底材的比較厚的涂層用

鐵·鋼等磁性金屬底材上的厚涂層用

測量方式

渦電流式

測量范圍

0～2.00mm

0～600μm

0～8mm

表示分解率

1μm：0～999μm

切換

0.1μm：0～400μm

 0.5μm：400～500μm

 0.01mm:1.00～2.00mm

1μm：0～600μm

切換

0.1μm：0～400μm

0.5μm：400～500μm

1μm：0～999μm

0.01mm：1～8mm

測量精度

（平滑表面）

0～100μm:±1μm

又或者時顯示值的

±2%以內

101μm～2.00mm：

         ±2%以內

0～100μm:±1μm

又或者時顯示值的

±2%以內

101μm～600μm：

         ±2%以內

0～100μm:±1μm

±（±1μm＋顯示值的±2%）

101μm～8mm：

         ±2%以內

探測部

1點定壓接觸式

V形口套頭

2.0：φ13×47mm

2.0L：18×23×67mm

1點定壓接觸式

V形口套頭

φ11×48mm

1點定壓接觸式

V形口套頭

φ35×61mm

選擇產品

V形套頭/-

－

－

附屬品

標準校正片、試驗用零校正板（非鐵用）

測量對象

鋁、銅等非磁性金屬底材

上的絕緣性皮膜等一般普

通測量物用。

鋁、銅等非磁性金屬底

材上的絕緣性皮膜等

細小的圓棒、細管、小

物件等的高安定性用。

鋁、銅等非磁性金屬

底材上的絕緣性皮膜等

比較厚的測量物用。